JIS X6331-1998 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第4部分:逻辑数据结构

作者:标准资料网 时间:2024-05-06 11:21:14   浏览:8576   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Identificationcards--Opticalmemorycards--Linearrecordingmethod--Part4:Logicaldatastructures
【原文标准名称】:识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第4部分:逻辑数据结构
【标准号】:JISX6331-1998
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1998-07-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonInformationTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:磁性卡片;数据结构;计算机存储设备;光学存储;卡片;数据组织;数据处理
【英文主题词】:opticalstorage;dataorganization;datastructures;computerstoragedevices;cards;magneticcards;dataprocessing
【摘要】:この規格は,光メモリカードにおいて直線記録方式を使用するシステム間の互換性及び相互交換を可能にするための論理構造を規定する。
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:35_240_15
【页数】:41P;A4
【正文语种】:日语


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基本信息
标准名称:直热式测温型负温度系数热敏电阻器
英文名称:Directly heated measuring type negative temperature coefficient thermistiors
中标分类: 仪器、仪表 >> 仪器、仪表综合 >> 仪器、仪表用材料和元件
ICS分类:
替代情况:原标准号ZB N05009.2-1989
发布部门:国家机械工业局
发布日期:1999-08-06
实施日期:2000-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
提出单位:仪器仪表元器件标准化技术委员会
归口单位:仪器仪表元器件标准化技术委员会
起草单位:沈阳仪器仪表工艺研究所
起草人:徐学峰、叶济民、刘遵礼、城文录、白花珍、李培华、陈霞
出版社:机械工业出版社
出版日期:2000-01-01
页数:11页
适用范围

本标准 规定了直热式测温型负温度系数热敏电阻器(以下简称电阻器)的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。

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所属分类: 仪器 仪表 仪器 仪表综合 仪器 仪表用材料和元件
【英文标准名称】:StandardReferenceTestMethodforMakingPotentiostaticandPotentiodynamicAnodicPolarizationMeasurements
【原文标准名称】:作静电位标记和动电位阳极极化测量的基准测试方法
【标准号】:ASTMG5-1994
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电解分析法;试验;测量;金属;腐蚀;偏振
【英文主题词】:testing;wear;measurement;polarization(wavephysics);corrosion;metals;electro-analyticalmethods
【摘要】:
【中国标准分类号】:A68
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语